武漢大學科研公共服務條件平臺300kV雙球差校正透射電子顯微鏡（JEM-ARM300F2）已經安裝調試完成，即日起對校內開放試運行，歡迎校內師生預約測試！
一、儀器參數配置
型號：JEM-ARM300F2（GRAND ARM2）
廠家：日本電子株式會社（JEOL）
燈絲類型：冷場發射電子槍
加速電壓：40 – 300 kV
TEM線分辨率：≤50 pm (300 kV)
STEM分辨率：≤53 pm (300 kV)
相機：Gatan Oneview和K3相機
能譜：JED-2300T（158 mm2雙探頭）
其他附件：SAAF、4D-STEM、EELS、IDES等附件
二、應用領域
JEM-ARM300F2透射電鏡配備有獨特雙12極子球差校正器以及自動校正軟件使其可以輕松實現超高原子級分辨率成像，同時結合超大面積雙EDS探頭可實現高效的元素分析。搭載有Gatan底插Oneview相機，在4k x 4k的全幅分辨率下可以以25fps的幀速率進行實時觀察。GIF Continuum系統配備有直接電子探測的K3相機可以提升電子能量損失譜（EELS）的能量分辨率和性噪比，同時可以有效加快數據采集速度。電鏡全封裝外殼和主動減震設備使其具備良好的穩定性，在獲取原子級圖像的同時也可以高效的獲取EDS和EELS原子級Mapping。
三、溫馨提示
1、樣品要求：樣品無磁性；厚度在50納米以下；樣品要預先處理表面污染。
2、并非所有樣品都適合球差電鏡并獲得理想的數據結果，建議先在普通透射電鏡上篩選檢查樣品，再與實驗老師探討可行性。
3、目前先開放高分辨和原子像拍攝功能（有其他功能需求的用戶可聯系實驗老師討論樣品和實驗方案）。
預約請登錄：http://facility.whu.edu.cn
地點：武漢大學尖端科技樓101A
聯系人：李老師 13163286278
