武漢大學科研公共服務條件平臺相位差分低損傷成像原位透射電鏡（Spectra 300）已經安裝完畢，即日起對校內開放試運行，歡迎校內師生預約測試！

一、儀器參數配置

型號：Spectra 300

燈絲類型：超穩定高亮肖特基場發射電子槍配單色器（X-FEG Mono）

加速電壓：30–300 kV

TEM信息分辨率：60pm@300kV

STEM分辨率：50pm@300kV

相機：Ceta-S CMOS相機、Gatan K2相機

能譜：全對稱固定式Super-X能譜（能量分辨率：136eV (Mn-Kα)）

物鏡極靴間距：5.4mm（滿足三維重構桿及各種原位桿的大轉動角度±70°）

二、應用領域

聚光鏡（STEM）和物鏡（TEM）球差雙校正器，可實現STEM和TEM兩種模式下的超高分辨原子成像。四探頭超級能譜儀（Super-X），可實現原子級成分分析；先進的STEM探頭系統支持DPC/iDPC成像系統，可實現輕、重元素在同一幅STEM圖像中清晰成像，并支持在極低束流下對電子束敏感材料進行低損傷高襯度成像。另外，分析型三維重構樣品桿和重構軟件，提供原子尺度下三維TEM/STEM/EDS分析。廣泛應用于孔材料化學、單原子催化、二維材料、有機高分子纖維等樣品的表征和結構分析。

三、溫馨提示

1、樣品要求：樣品無磁性；厚度在50納米以下；樣品要預先處理表面污染。

2、并非所有樣品都適合球差電鏡并獲得理想的數據結果，建議先在普通透射電鏡上篩選檢查樣品，再與實驗老師探討可行性。

3、目前先開放高分辨和原子像拍攝功能（有其他功能需求的用戶可聯系實驗老師討論樣品和實驗方案）。

4、送樣請至少提前一周預約，并說明材料類型、晶體結構及預計結果等。

預約請登錄：http://facility.whu.edu.cn

地點：武漢大學尖端科技樓101H

聯系人：薛老師 15801273962（微信同號）