武漢大學(xué)科研公共服務(wù)條件平臺環(huán)境掃描電子顯微鏡（Quattro S）已經(jīng)安裝調(diào)試完畢，即日起對校內(nèi)開放試運(yùn)行，歡迎校內(nèi)師生預(yù)約測試！

一、基本參數(shù)

儀器型號：Quattro S

功能特色：

環(huán)境掃描電鏡Quattro S配備場發(fā)射電子槍（FEG）實(shí)現(xiàn)納米級分辨率，集成高真空、低真空及環(huán)境真空等工作模式，適配導(dǎo)電/非導(dǎo)電、含水或熱敏樣品，無需復(fù)雜預(yù)處理即可觀察自然狀態(tài)樣品。搭載Peltier冷臺（-20℃至55℃），可實(shí)現(xiàn)低溫成像，減少熱損傷，特別適用于生物組織、聚合物等活性樣本的動態(tài)表征。系統(tǒng)配備斜插式能譜儀（EDS），可實(shí)現(xiàn)快速元素分析，低真空模式下突破非導(dǎo)電樣品限制。

技術(shù)指標(biāo)：

(1）分辨率：高真空成像：1.0nm@30KV(SE), 2.5nm@30KV(BSE)；

低真空成像：1.3nm@30KV(SE), 2.5nm@30KV(BSE)；

環(huán)境真空成像：1.3nm@30KV(SE)

(2）放大倍數(shù)：6x-2500000x

(3）電子束流：1pA-200nA

(4) 樣品臺：五軸電動優(yōu)中心測角臺，X=110mm，Y=110mm,Z=65mm，T= -15°~90°，R=360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)。

(5）冷臺：Peltier冷載物臺，溫度范圍-20℃~+55℃

二、應(yīng)用領(lǐng)域

該儀器廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、地質(zhì)礦物及工業(yè)檢測等領(lǐng)域，適配導(dǎo)電/非導(dǎo)電、含水或熱敏樣品，滿足從納米級形貌觀測到成分分析的科研需求，為復(fù)雜樣品研究提供精準(zhǔn)解決方案。

送樣須知和預(yù)約時段詳見儀器公告（086 環(huán)境掃描電子顯微鏡）。

預(yù)約請登錄：http://facility.whu.edu.cn

地點(diǎn)：武漢大學(xué)尖端科技樓101F

聯(lián)系人：郭老師 15077903171